X轴纳米定位/扫描平台

发布时间:2024-09-19浏览次数:1507
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      X轴纳米定位/扫描平台基于微纳柔性机构和压电执行器实现超高分辨力纳米运动,内置电容位移传感器,通过高性能纳米伺服系统实现闭环控制,具有亚纳米级运动分辨率、纳米级运动精度和高速、高动态轨迹扫描功能。

支持面向不同应用和需求的产品开发与定制。


技术特点:

  • 超高定位精度

  • 高动态

  • 多运动模式:定位/扫描

  • 兼容超高真空

  • 无摩擦柔性铰链导向

 

应用领域:

  • 光学对准

  • 纳米压印

  • 显微成像/操纵

  • 光栅刻写

  • 双光子聚合

  • 光学移相

  • 晶圆检测

  • 表面检测

  • 测量技术

  • 半导体加工

 

规格参数:



型号

NP-ST-X-100

动轴

X

传感器类型

电容传感器

驱动类型

压电陶瓷

闭环行程 (um)

100

分辨率 (nm@50Hz)

0.25

重复定位精度 (nm)

1

最大负载 (kg)

1

无负载谐振频率 (Hz)

3000

材料

铝合金/钛合金

尺寸 (mm)

55x45x18.3

真空

超真空兼容5X10-9 (mBar)可选

自重 (g)

208

电气接口

D-sub9

工作温度(℃)

-20-80

推荐控制器/驱动器

数字伺服控制器NPC-031/纳米伺服控制器APS-203


X方向压电扫描平台 产品规格书-03.png纳米定位平台 纳米位移台 柔性铰链平台 电控位移台 高精度电控位移台 精密滑台 压电平台 压电纳米台 纳米压电平台 纳米定位台 压电柔性铰链平台 压电扫描台 压电定位台 压电纳米定位台


资料下载




X轴纳米定位 扫描平台 产品规格书.pdf


X轴纳米定位扫描平台二维图+三维模型.zip


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